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Bruker-AXS D8-GADDS Θ/Θ Diffraktometer

Bruker-AXS D8-GADDS (θ-θ Diffraktometer)

Charakteristika

(1)    Incoatec Mikrofokus-Röntgenröhre
(2)    Probentisch mit xyz-Tisch auf ¼ Eulerwiege
(3)    Vantec 2000 Halbleiterdetektor
(4)    Video-Justiersystem mit Laser (5)

  • Geometrie: Θ/Θ- Diffraktometer; Parallelstrahl
  • Anode: Cu Mikrofokus-Röntgenquelle
  • Monochromatisierung: Montelspiegel
  • Strahlgrößen: 2x2 mm², ∅1, 0.5, 0.3, 0.08 mm²
  • Abstand Anode-Probe (AP): 100 - 300 mm
  • Abstand Probe-Detektor (PD): 100 – 300 mm
  • Probenbewegung: ¼ Eulerwiege; xyz-Tisch (Tragfähigkeit 2 kg)
  • Probenjustierung: Video-Justiersystem mit Laser
  • Detektor: Vantec 2000 (Winkelbereich 2θ= 32°, ψ= 63° bei PD= 220 mm)

Non-ambient

  • Lastrahmen (geplant)
      
     


Anwendungen

  • Qualitative/quantitative Phasenanalysen (z.B. Korrosions-Produkte, Restaustenitanalysen)
  • Spannungsanalyse (Bulk- und Dünnfilmproben)
  • Texturanalyse (Bulk- und Dünnfilmproben
  • Mikrodiffraction (bis Strahlgrößen > 80 μm)
  • „Reciprocal Space Mapping“ Dünnfilmen

    XPERT III: PANalytical XPert Pro MPD (θ-θ Diffraktometer)

    XPERT III: PANalytical XPert Pro MPD (θ-θ Diffraktometer)

    Charakteristika

    (1)    Röntgenröhre
    (2)    Probenposition mit Heizkammer (HTK 1200, Anton Paar)
    (3)    a: X’Celerator Detektor mit 2.1° Überdeckung b: Proportionaldetektor (0D) mit Graphit-monochromator (4), (5)    Automatische Strahlblenden

    • Geometrie: Θ/Θ- Diffraktometer; Bragg-Brentano
    • Anode: Cu -Röntgenquelle
    • Monochromatisierung: a) Ni-Filter; b) Sekundärmonochromator Graphit
    • Strahlgrößen: variable Strahlblenden (primär/sekundär automatisch)
    • Abstand Anode-Probe (AP): 240 mm
    • Abstand Probe-Detektor (PD): 240 mm
    • Probenbewegung: Spinner ohne Probenumgebung; fix für Probenumgebung
    • Detektor: a) X’ Celerator Halbleiterdetektor (2.1°); b) Szintillationsdetektor (0D)

    Non-ambient

    • Closed-Cycle Kryostat (11K > T < 310 K)
    • Anton Paar HTK 1200 N (T < 1200°C); Luft, Stickstoff-Atmosphäre
    • Anton Paar XRK 900 Reaktionskammer (P < 10bar; T < 900°C); Gasatmosphären (Ar, H2, CO, CO2, Mischungen)
    • Anton Paar TTK450 Kammer (100K > T < 470K)

    Anwendungen

    • Qualitative/quantitative Phasenanalyse kristalliner Anteile
    • Amorphe Phasenanteile
    • Kristallitgrößen
    • Restaustenitanalyse

    unter non-ambient Bedingungen

    Reflexionsmessungen/Transmissionsmessungen/
    Kapillarmessungen

    XPERT II: PANalytical XPert Pro MPD (θ-θ Diffraktometer)

    XPERT II: PANalytical XPert Pro MPD (θ-θ Diffraktometer)

    Charakteristika

    (1)    Röntgenröhre
    (2)    Probenposition mit Spinner
    (3)    Automatische Strahlblenden



    • Geometrie: Θ/Θ - Diffraktometer; Bragg-Brentano
    • Anode: Cu - Röntgenquelle
    • Monochromatisierung: a) Ni-Filter; b) Sekundärmonochromator Graphit
    • Strahlgrößen: variable Strahlblenden (primär/sekundär automatisch)
    • Abstand Anode-Probe (AP): 240 mm
    • Abstand Probe-Detektor (PD): 240 mm
    • Probenbewegung: Spinner ohne Probenumgebung
    • Probenwechsler für 15 Proben
    • Detektor: a) X’Celerator Halbleiterdetektor (2.1°); b) alternativ Proportionalzähler (0D) mit Graphitmonochromator

    keine Option für non-ambient Messungen

      

     
     

    Anwendungen

    • Qualitative/quantitative Phasenanalysen unter ambient Bedingungen (z.B. Routinemessungen zur Synthesekontrolle)
    • Reflexionsmessungen/Transmissionsmessungen

    Empyrean PANalytical (θ-θ Diffraktometer) / Anwendungsgerät der Fa PANalytical

    Empyrean PANalytical  θ-θ Diffraktometer

    Charakteristika

     

    (1)    Röntgenröhre
    (2)    Probenposition
    (3)    (a) PIXCel- Detektor mit 3D Überdeckung; (b) Szintillationsdetektor (0D) für Ag-Strahlungsoption
    (4)    Automatische Strahlblenden
    (5)    Probenwechsler für 45 Proben

    • Geometrie: Θ/Θ - Diffraktometer; Bragg-Brentano (fokussierender Spiegel; Cu(Kalpha1,2)), Parallelstrahlgeometrie (Spiegel; Cu(Kalpha1,2)), Channel-Cut Monochromator (CuKalpha1), GID; Kapillar- /reflexions- und Transmissionsgeometrie
    • Anode: Cu/Mo/Ag - Röntgenquelle
    • Monochromatisierung: a) Filter (Cu, Mo, Ag); b) Spiegel (Parallelgeometrie; Fokussierend für Cu-Anode)
    • Strahlgrößen: variable Strahlblenden (primär/sekundär automatisch)
    • Abstand Anode-Probe (AP):240 mm
    • Abstand Probe-Detektor (PD):240 mm
    • Probenbewegung: Spinner ohne Probenumgebung; fix für Probenumgebung
    • Kipptisch für Spannungs- und Texturmessungen
    • Aufbau für GID-messungen an dünnen Schichten
    • Reflektometeraufsatz
    • Detektor: a) PIXCel 3D Halbleiterdetektor; b) Szintillationsdetektor (0D) für Ag- Strahlung

    Non-ambient

    Momentan nicht vorgesehen





      

      
      

      
      

    Anwendungen

    • Qualitative/quantitative Phasenanalyse kristalliner Anteile
    • Amorphe Phasenanteile, Kristallitgrößen, etc.
    • Spannung-/Texturmessungen
    • Reflektometriemessungen
    • GID- Messungen an dünnen Schichten
    • Messungen für PD-Analyse
    unter ambient Bedingungen

    Kapillar-/Reflexions- und Transmissionsgeometrie

    Fa PANalaytical

    Bruker KAPPA APEX II Einkristalldiffraktometer

    Bruker KAPPA APEX II Einkristalldiffraktometer

    Charakteristika

     

    (1) Röntgenröhre
    (2) Kollimator
    (3) 4-Kreis-Goniometer
    (4) Probenkopf
    (5) Detektor
    (6) Kühlung/Heizung

    • Geometrie: 4-Kreiser mit Kappa-Geomentrie
    • Anode: Mo-Röntgenquelle
    • Monochromatisierung: Graphit
    • Strahlgröße: variable Kollimatoren, 0.4-0.8 mm
    • Abstand Probe-Detektor: 36-180 mm
    • 2D CCD Detektor

    Non-ambient

    • Kühlen bis 90 K und Heizen bis 450 K in trockener Sticktstoff-Atmosphäre

    Anwendungen

    Strukturaufklärung (Organik, Metallorganik und Anorganik)
    Bestimmung der absoluten Konfiguration (Elemente ≥S)
    Struktur-Funktionsbeziehungen (z.B. nichlinear optische Materialien)
    Kristallographisch anspruchsvolle Probleme: Stapelfehlordnungen, Zwillinge, Modulation
    Phasenübergänge (z.B. magnetische oder ferroelektrische Übergänge)

    Bruker SMART APEX Einkristalldiffraktometer

    Bruker SMART APEX Einkristalldiffraktometer

    Charakteristika

     

    (1)    Röntgenröhre
    (2)    Videosystem
    (3)    3-Kreis-Goniometer
    (4)    Probenkopf
    (5)    CCD-Detektor
    (6)    Probenkühlung (Cryostream: LN2)


    • Geometrie: 3-Kreiser mit fixem Kappa-Winkel
    • Anode: Mo-Röntgenquelle
    • Monochromatisierung: Graphit
    • Strahlgröße: 0.8 mm
    • Abstand Probe-Detektor: 55 mm
    • 2D CCD Detektor

    Non-ambient

    • Kühlen bis 90 K in trockener Sticktstoff-Atmosphäre

    Anwendungen

    • Routine-Strukturaufklärung (Organik, Metallorganik und Anorganik)